概述
Marvin Test Solutions的DIOEasy-FIT选项为测试工程师提供了一个用于将STIL，WGL，VDC / EVCD文件导入和转换为Marvin Test Solutions数字仪器文件格式的软件工具。DIOEasy-FIT与Marvin Test Solutions的DIOEasy波形显示和编辑软件配合使用，为所有MTS动态数字仪器的开发，调试和执行数字测试向量提供了一个有效的工具集。
标准测试接口语言（STIL，IEEE-1450）由几家测试设备供应商，计算机辅助工程（CAE），计算机辅助设计（CAD）和集成电路（IC）供应商的联盟开发。该标准提供了将数字测试数据向量从设计环境传输到测试环境的通用语言。
波形生成语言（WGL）发音为“wiggle”，是由Test System Strategies Inc.（TSSI）创建的数据描述语言。WGL文件本质上是一个包含信号模式以及定时，诊断和其他信息的文本文件。工程师通常使用WGL矢量格式来在产品开发的设计验证和生产测试阶段对半导体器件进行测试。 这些向量由电子设计自动化（EDA）工具生成，用于测试设备并验证其物理实现与模拟中获得的结果是否匹配。 |
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VCD和EVCD文件格式是IEEE-1364（IEEE标准Verilog®硬件描述语言）的一部分。扩展VCD（EVCD，IEEE-1364-2001）是VCD文件格式的较新版本，并支持定向数据。
DIOEasy-FIT和GTDIO库提供导入上述文件并将其转换为DIO文件格式的功能，然后可以将其加载到DIO板卡中。导入文件时，用户可以指定数字仪器步速的时钟速率；（例如，默认值为10ns（100MHz）是GX5292板最快的时钟频率）。如果指定的时钟速率太慢并且不能满足导入文件中定义的定时约束（例如，时钟>UUT输出探测窗口等），则返回错误。生成的DIO文件支持激励/响应和实时比较（RTC）操作模式。 |
